Описание:

К-ALPHA+ – полностью интегрированный РФЭ спектрометр. Прекрасные возможности для проведения анализа, низкая стоимость и компактные размеры сделали K-Alpha+ идеальным решением как для традиционных, так и для новых областей применения анализа поверхности.

Всего за год существования на рынке прибор приобрел чрезвычайную популярность и широко используется в биомедицинских лабораториях и центрах исследования наноматериалов по всему миру.

 

Особенности:

 

Конфигурация

Микрофокусный монохроматизированный источник рентгеновского излучения для быстрого и эффективного проведения анализа

• Определение химических состояний элементов
• Возможность непрерывного изменения анализируемой площади (от больших площадей до 30 мкм)
• Неразрушающий анализ
• Простота позиционирования пятна на поверхности
• Картирование поверхности, возможность сканирования вдоль линии с микронным разрешением

 

Электронная оптика последнего поколения, обеспечивающая максимальную точность и высокую интенсивность

• Новейшая конструкция линз
• Анализатор высокого разрешения
• Получение данных как в параллельном режиме, так и в режиме сканирования
• Режим снимка для быстро картирования поверхности и профилирования по глубине
• Превосходные пределы обнаружения для РФЭС

 

Точное позиционирование образца для большей уверенности в получаемых результатах

• Максимальная точность позиционирования образца
• Уникальная система подсветки
• Запатентованная система наблюдения за образцом (используются 3 камеры)
• Система отражающей оптики для выбора области анализа

 

Новейшая ионная пушка для эффективного распылительного профилирования

• Оптимальная скорость травления
• Режим низкоэнергетических электронов
• Возможность вращения образца
• Режим высокого тока для повышения скорости травления
• Автоматическая настройка и юстировка

 

Новая система компенсации заряда для исследования непроводящих образцов

• Возможность получения спектров высокого разрешения
• Исследование любого типа образцов
• Анализ больших и малых площадей поверхности
• Не требуется вмешательства пользователя

 

Геометрия всех компонентов аналитического оборудования была учтена для оптимизации работы прибора. Схема расположения компонентов представлена на рисунке.

Система обладает несколькими важными особенностями:

Картирование поверхности - определение распределения компонентов

Многоканальный детектор в системе K-Alpha+ позволяет мгновенно получать спектры высокого разрешения. Это означает, что спектр можно получить для каждой точки изображения. К каждой точке также можно применить все функции обработки данных программного обеспечения Avantage, включая функцию аппроксимации спектров и учета фона. Это позволяет пользователю получать количественные карты распределения элементов в различных химических состояниях по поверхности, аналогичные представленной на рисунке ниже. Более подробную информацию Вы можете получить у наших специалистов.

Картирование поверхности: (а) карта распределения атомов углерода в состоянии, отвечающем связи C-H, (b) связи С-F.

 

Распылительное профилирование

Система K-Alpha+ оборудована новой ионной пушкой, которая особенно эффективна при низких энергиях. Это значит, что система может непрерывно генерировать профили распределения элементов по глубине с отличным разрешением даже для самых "трудных" образцов. В случае необходимости для получения оптимального разрешения по глубине можно использовать азимутальное вращение.

 
Профили распределения элементов по глубине для фрагмента рентгеновского зеркала, в котором слои чередуются через каждые 7 нм. Для получения профилей использованы ионы аргона с энергией 220 эВ.

 

Функция автоматического создания отчетов

Программное обеспечение Avantage позволяет отказаться от выполнения многих рутинных операций, связанных с проведением анализа. В нем имеется возможность автоматического создания отчетов. Отчет содержит изображения образцов и анализируемой области, все полученные спектры и таблицы количественных результатов для каждого из проанализированных образцов.

 

Функция автоматического проведения анализа

Система K-Alpha+ также использует функцию Auto-analyze. Благодаря этой опции пользователь может просто загрузить образцы и указать на изображении Platter View позиции для анализа.

Операции:

• откачка камеры ввода и перемещение образца в камеру анализа;
• регистрация обзорного спектра;
• идентификация элементов, присутствующих в обзорном спектре;
• получение количественных результатов;
• получение спектров высокого разрешения для идентифицированных элементов для определения их химических состояний;
• определение химических состояний для идентифицированных элементов и состава образца;
• переход к следующему образцу и повторение вышеуказанных операций, начиная с операции №2;
• создание отчета после завершения анализа последнего образца;
• возврат образцов в манипулятор. Теперь можно загрузить в прибор новый комплект образцов.