Работа локализатора неисправностей приборов основана на использовании метода аналогового сигнатурного анализа (ASA), иногда этот метод называют VI (напряжение - ток). Локализатор неисправностей имеет собственную память на 128 сигнатур.

Область применения прибора

Локализатор неисправностей (Аналоговый сигнатурный анализатор) SFL 1500 предназначен для поиска неисправностей в электронных модулях на компонентном уровне. Прибор прост в эксплуатации, получаемая с его помощью информация позволяет выявлять самые сложные неисправности в электронных модулях. SFL1500 может быть использован производителями электроники и сервисными центрами. Кроме того, он может применяться для входного контроля электронных компонентов.

Приборы разработаны специалистами предприятия ООО "Совтест АТЕ" и успешно прошли испытания на базе предприятия, а также в независимой лаборатории на соответствие требованиям ГОСТ Р.

 

Особенности прибора SFL1500

• Локализация неисправностей на компонентном уровне без подачи питания на проверяемый электронный модуль – методом ASA
• Обнаружение неисправных конденсаторов, транзисторов, симисторов и ИМС без выпаивания их из электронных модулей
• Программирование по эталонному модулю в режиме самообучения
• Функция RLC – для распознавания типов SMD компонентов на платах и определения их номиналов.

 

Аналоговый сигнатурный анализ

 

В приборе SFL1500 используется простой эффективный метод “ASA - Analog Signature Analysis” (Аналоговый сигнатурный анализ). Данный метод эффективен и безопасен при тестировании любых электронных модулей, поскольку при его реализации отсутствует необходимость в подаче на проверяемые платы питающего напряжения. По этой причине исключается возможность появления последующих дефектов в виде КЗ, выгорания дорожек и элементов при тестировании неисправного электронного модуля. Метод ASA одинаково эффективен при локализации неисправностей, как на цифровых, так и на аналоговых электронных блоках любой сложности (от источников питания до микропроцессорных модулей).

 

Метод ASA реализуется путем подачи испытательного сигнала со щупов (клипс) прибора на каждую электрическую цепь тестируемого изделия с последующим сравнением сигнатур эталонной рабочей платы, или хранящихся в памяти ПК файлов, с характеристиками тестируемой платы. Данный метод позволяет локализовать неисправности на компонентном уровне даже при отсутствии детальных знаний о функционировании тестируемой электрической цепи, что может оказаться чрезвычайно полезным при отсутствии документации на испытываемый электронный модуль.

 

Работа с прибором SFL1500

 

Прибор имеет широкий диапазон режимов тестирования и частотных режимов. Это позволяет достоверно оценить большое количество различных компонентов, и можно одинаково безопасно подвергать тестированию полупроводниковые как компоненты и микросхемы, так и мощные радиоэлементы. Так режим MIN удобен при проверке цепей схемы электронного модуля состоящей из пассивных и полупроводниковых компонентов, а в режиме HIGH возможно тестирование высокоомных компонентов и диодов, имеющих обратное напряжение от 20 до 50В. А, варьируя частотными режимами, удобно оценивать работу компонентов, накапливающих энергию – конденсаторов и индуктивностей.

 

Функция RLC – еще один полезный инструмент локализатора неисправностей SFL1500. Её использование незаменимо на платах с высокой плотностью монтажа SMD компонентов, когда требуется распознавание типов компонентов и определение их номиналов.

 

Режимы работы:

 

В режиме реального времени (непосредственного сравнения) прибор сравнивает два одинаковых устройства – эталонное и тестируемое и результат тестирования выводится на дисплей локализатора неисправностей или монитор ПК. 

 

В режиме программирования прибор производит проверку проверяемого изделия по заданной программе тестирования. Оператор устанавливает пробники согласно командам программы, а сравнение сигналов выполняется прибором автоматически. Наличие файла эталонных сигнатур (тестовой программы) позволяет обойтись при тестировании без использования второго (эталонного) устройства.

 

Технические характеристики 

Диапазоны тестирования	V пик                                I пик
Min	1В                      500мкА
Logic	10В                    5мА
Low	10В                    150мА
Med	20В                    1мА
High	40В                    1мА
Частоты тестирования	50Гц, 100Гц, 500Гц, 1000Гц, 2000Гц
Импульсный генератор
DC, Pulse1, Pulse2	0 – 7,5В (регулируемый)
	Регулировка длительности и амплитуды импульса
Регулировка чувствительности	1 – 99%