Регистрация
deal.by
Анализатор производственных дефектов Seica Compact SL - фото 1 - id-p172097422
Характеристики и описание
    • Страна производитель
      Италия

Модель Compact SL – это встраиваемая в производственную линию тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей при крупносерийном и массовом производстве.

Функциональные возможности:
  • внутрисхемное аналоговое тестирование: коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов, включая согласование обмоток, установленных микросхем по входным защитным диодам, качества пайки микросхем емкостным методом и т.д.
  • внутрисхемное цифровое тестирование (опция): контроль цифровых микросхем на соответствие таблице истинности.

Для исключения влияния параллельно установленных микросхем (например, при наличии шинной технологии) на вход тестируемой микросхемы подаются импульсы большого тока с ограниченной длительностью (backdriving - принудительный перевод логики в нужное логическое состояние). Максимальное количество гибридных тестовых каналов (аналоговых/цифровых) системы - 1536 (с шагом, кратным 64). Система работает с адаптерными устройствами типа «поле контактов» (bed-ofnails) с автоматическим пневматическим прижимом. В тестер по модульному принципу могут быть добавлены функциональные модули источников питания, контроллера динамического цифрового тестирования, а также дополнительные мультиплексирующие, релейные и цифровые модули.
 

 

Технические характеристики:

 

Тестируемая плата

Макс. размер: 480х360 мм

Внутрисхемное тестирование

КЗ/Обрывы

Сопротивление: 0,1 Ом - 100 МОм

Емкость:10 пФ - 10000 мкФ

Индуктивность: 1 мкГн - 100 мГн

Транзисторы

Диоды и стабилитроны до 100 В

Трансформаторы

Реле

Непропай выводов микросхем (опция)

Контроль качества пайки (опция)

Система локализации неприпаянных выводов микросхем (BGA, QFP, PLCC и т.д.)

Производительность

Время загрузки и выгрузки платы – 8 с. Время внутрисхемного тестирования платы с 60-100 компонентами ориентировочно 15-25 с.

Общие характеристики

Габаритные размеры (ДхШхВ): 1600х900х1600 мм

Вес: 300 кг

Эл.питание: 220В, 50Гц, 2,5 кВт

Пневмопитние: 5,5 атм, 20л/мин

Интерфейс SMEMA для встраивания в конвейерную линию

 

Был online: Сегодня
ООО "Тактиком"
Рейтинг не сформирован
2 года на Deal.by

Анализатор производственных дефектов Seica Compact SL

Под заказ
Цену уточняйте
Доставка
Оплата и гарантии

У нас покупают